Студенты МИЭМ Айвар Уркунов и Наталия Евсеева успешно выступили с докладом на XIX ежегодной научно-технической конференции «Научные чтения по авиации, посвящённые памяти Н.Е. Жуковского». Рассказываем об исследовании ребят.

Лучший доклад в области авиационной электроэнергетики

С 14 по 15 апреля в Москве при поддержке компании НаукаСофт прошла XIX ежегодная научно-техническая конференция «Научные чтения по авиации, посвящённые памяти Н.Е. Жуковского». Площадкой проведения стал Московский Государственный Технический Университет Гражданской Авиации (МГТУГА).

На конференции были затронуты следующие темы:

·       оценка современного состояния и развития инновационных технологий в решении проблем современной авиационной техники;

·       привлечение внимания к проблемам пилотируемой и беспилотной авиации;

·       формирование современного взгляда на перспективы развития авиационной науки и техники.

Участники отдельно акцентировали внимание на темах обеспечения  рентабельности и конкурентоспособности российской авиационной сферы на международных рынках. Также были вынесены на обсуждение проблемы разработки российского ПО для более детального проектирования «полностью электрических воздушных судов» и создания новых уточненных математических моделей для оценки безотказности электронных компонентов.

В «Чтениях» приняли очное участие студенты 4 курса бакалаврской программы «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» МИЭМ НИУ ВШЭ Уркунов Айвар и Евсеева Наталия с докладом «Исследование показателей безотказности резисторов при отрицательных температурах». Выступление было отмечено дипломом за лучший доклад в секции «Авиационная электроэнергетика».

Доклад подготовлен под руководством научного руководителя, к.т.н., старшего преподавателя департамента электронной инженерии МИЭМ НИУ ВШЭ Павла Королева. Отдельная благодарность в подготовке научного доклада выражается к.т.н., доценту департамента компьютерной инженерии Сергею Полесскому.

  

Павел Королёв, старший преподаватель ДЭИ МИЭМ НИУ ВШЭ

 

«Ребята занимались изучением российской и зарубежной литературы, моделированием, разработкой алгоритмов прогнозирования показателей безотказности отдельных видов электрорадиоизделий… Подошли к тому, что при оценке надежности необходимо учитывать не только условия эксплуатации или обобщенные коэффициенты, связанные, например, с электрической нагрузкой, но и физико-химические свойства, чтобы определить уточняющие факторы в виде коэффициентов и их численных значений. Это актуально, так как аппаратура и техника эксплуатируются при низких температурах окружающей среды».

Мы расспросили ребят об их исследовании, целях и задачах, поставленных в нём, а также о промежуточных результатах.

Уркунов Айвар (ИТСС, 4 курс) и Евсеева Наталия (ИТСС, 4 курс)

Евсеева Наталия (ИТСС, 4 курс):

«Наше исследование связано с изучением надежности радиоэлектронных устройств. Обнаружив, что математические модели оценки показателей безотказности на сегодняшний день существуют только для положительного диапазона температур окружающей среды, стало интересно разобраться с отрицательными значениями температур. Так как я углубленно изучаю программирование на разных языках в Школе 21 от Сбера уже год, в данной работе я применила полученные знания и углубилась в методы машинного обучения, используя язык Python. В исследовании мы использовали метод линейной регрессии машинного обучения, с помощью чего смогли спрогнозировать уточненную математическую модель эксплуатационной интенсивности отказов резисторов, входящих в состав радиоэлектронных устройств»

Уркунов Айвар (ИТСС, 4 курс):

«В 2021 году мы с командой разрабатывали программно-аппаратный комплекс для проведения ускоренных испытаний электрорадиоизделий, параллельно работая над методикой такого рода испытаний. Тогда меня заинтересовала тема надежности... С большим погружением в эту сферу понимаешь, что становится больше вопросов: какие деградационные процессы возникают в резисторах при низких температурах; как влияет на безотказность разность температур самого электрорадиоизделия и окружающей среды; насколько сильно влияние других элементов платы на резисторы; какие физико-химические процессы возникают в них. Для ответов на все эти вопросы необходимо проводить ускоренные испытания, что является довольно сложной задачей, это и добавляет интереса. Над этим мы будем работать в дальнейшем».

Также Айвар рассказал о текущих результатах исследования:  «Были спрогнозированы значения коэффициента режима, входящего в состав математической модели основного показателя безотказности. Как следствие, уточнены значения эксплуатационной интенсивности отказов тонкопленочных резисторов группы "Прецизионные" на диапазоне температур от -55 до +125 градусов по Цельсию. Спрогнозированные значения были оптимально аппроксимированы до полинома 2 степени. Таким образом, на основе имеющихся данных получена зависимость показателей безотказности от температуры на расширенном диапазоне. Для более корректного уточнения необходимо проведение реальных физических экспериментов, потенциально возможных при разработке методики ускоренных испытаний и наличии необходимой аппаратуры».

Выражаем благодарность студентке МИЭМ НИУ ВШЭ Валентине Касиловой (Медиацентр МИЭМ) за помощь в подготовке материала.