В МИЭТе прошло расширенное совместное заседание Ассоциации вузов, осуществляющих подготовку кадров в области радиоэлектронной промышленности (Ассоциация вузов ЭКБ), посвященное вопросам взаимодействия Ассоциации и Совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии.
Заключение соглашения о сотрудничестве
В рамках мероприятия было заключено пятистороннее соглашение о сотрудничестве и взаимодействии в сфере развития кадрового потенциала микро- и наноэлектроники и независимой оценки качества подготовки специалистов. Документ подписали председатель Совета по профессиональным квалификациям в наноиндустрии А.Г. Свинаренко, председатель Совета Ассоциации вузов ЭКБ, президент МИЭТ Ю.А. Чаплыгин, ректор МИЭТ В.А. Беспалов и представители индустриальных партнеров университета – заместитель генерального директора по организационному развитию и управлению персоналом АЭ «Научно-исследовательский институт молекулярной электроники» (НИИМЭ) Л.В. Поликарпова и генеральный директор АО «ЗИТЦ» С.М. Портнов.
Открыл заседание президент МИЭТ, председатель Совета Ассоциации вузов ЭКБ, академик РАН Ю.А. Чаплыгин: «Сейчас цели Ассоциации стали сложнее, их стало больше, в силу изменившихся обстоятельств интерес к электронной промышленности резко возрос. Соответственно, возрос спрос и на подготовку специалистов, востребованность этих кадров, разработок, научных исследований. Именно поэтому эти вопросы вошли в сегодняшнюю повестку нашей встречи. Ассоциация позитивно воспринимает то, как возрос интерес к нашей отрасли и к нашему сообществу.
Рамочное соглашение, которое мы сегодня подписали, позволит плотнее взаимодействовать с советом по профессиональным квалификациям, наши студенты будут чаще проходить аттестацию и, надеюсь, это поможет стать им еще более востребованными на рынке труда».
Национальная система квалификаций
С первым докладом выступил заместитель директора Департамента стратегического развития Минобрнауки РФ Всеволод Киреев, который представил федеральный проект «Подготовка кадров и научного фундамента для электронной промышленности». Следующий доклад был посвящен применению инструментов Национальной системы квалификаций для трансформации системы подготовки кадров. А.Г. Свинаренко, председатель Совета по профессиональным квалификациям (СПК) в наноиндустрии, члена Национального совета при Президенте Российской Федерации по профессиональным квалификациям, отметил:
«Новые вызовы экономического развития связаны в значительной мере с обеспечением внутреннего рынка не только компонентами для развития промышленности, но и специалистами с необходимыми квалификациями. Для этого уже наработаны инструменты национальной системы квалификации, а также инструменты системе профессионального образования – нужно использовать их в связке и отвечать на те вызовы, которые поставлены сегодня перед отраслью – в промышленности, в науке и в профессиональном образовании», – подчеркнул Андрей Геннадьевич и предложил вузам-участникам Ассоциации активнее создавать у себя экзаменационные центры, используя опыт внедрения национальной оценки квалификации в аттестационных процедурах.
Национальная система квалификации развивается с 2012 года, и основными ее инструментами являются отраслевые советы по профессиональным квалификациям, которых на сегодняшний день более 40 – в том числе три совета в сфере радиоэлектроники. Свыше полутора тысяч центров оценки квалификации и экзаменационных площадок уже действуют в стране. По словам А.Г. Свинаренко, СПК одним из первых начал системно сотрудничать с вузами по широкому внедрению инструментов национальной системы квалификации в систему подготовки кадров.
«На сегодняшний день в области нано- и микроэлектроники в профессиональных экзаменах уже приняло участие около 2000 студентов, 72 образовательные программы прошли профессиональную общественную аккредитацию, – подытожил председатель СПК. – Механизм независимой оценки квалификации успешно интегрируется в итоговую промежуточную аттестацию выпускников системы профессионального образования, как высшего, так и среднего. В нашем пилотном проекте принимали участие 24 вуза – результат, на наш взгляд, позитивный».
Оценка качества подготовки кадров для отрасли
Подходы к решению проблем оценки качества подготовки специалистов в области микро- и наноэлектроники разобрала генеральный директор НП «Межотраслевое объединение наноиндустрии» О.А. Крюкова:
«Национальные системы квалификации содержат набор инструментов, позволяющих решить проблему быстрого переучивания специалистов и оценки качества образования. На сегодняшний день действует порядка 500 центров квалификации во всех регионах.
Еще в 2019 году мы одними из первых начали масштабный пилотный проект «Вход в профессию», который включал проведение оценки без дистанционного режима, оценки по модулям и квалификационный экзамен. Более 80% участников прошло теоретическую часть подготовки успешно. 57 квалификаций мы полностью адаптировали для выпускников высших учебных заведений.
В связи с ситуацией на рынке применяется механизм постоянной актуализации. У нас получится решить все и с точки зрения нормативно-правовой базы и перейти на общественную аккредитацию. Надеемся, что выпускники смогут получать и показывать не только дипломы, но и аккредитацию. Мы вышли на финишную прямую, на этап массового внедрения данной системы».
Экзаменационные центры вузов
Затем собравшиеся обсудили концепцию и модель функционирования Экзаменационного центра вуза (ЭЦ) в составе Центра оценки квалификаций. Опытом работы экзаменационного центра в СПбГЭТУ «ЛЭТИ» поделился заведующий кафедрой Микро- и наноэлектроники ЛЭТИ В.В. Лучинин. Об институте развития независимой оценки квалификации в вузе и формирования квалификационных траекторий студентов рассказал секретарь СПК в наноиндустрии Сергей Ионов.
«Основная идея пространства для оценки квалификации не подразумевает, чтобы студентов сравнивали или порицали, – пояснил Сергей Александрович. – Мы хотим внедрить работодателей в образовательный процесс, они обязательно должны быть в вузе. Центры оценки квалификации – это формальное название, важна суть: студентов нужно готовить к успешному выходу на рынок труда, и данные площадки для этого идеальны.
Мы собрали и представляем имеющийся на сегодняшний день положительный опыт. Три из восьми наших экзаменационных площадок – самые активные. В тех вузах, где само руководство заинтересовано в развитии этих механизмов, студенты активно проходят оценку квалификации. В каждом вузе есть свои нюансы, но если студент на 1-2 курсе получит одну квалификацию, на 3-4 еще одну, и выпустится с несколькими квалификациями – его мобильность повысится в разы».
Проректор по учебной работе МИЭТ Александр Балашов описал в своем докладе совместную работу МИЭТ и СПК в наноиндустрии по внедрению профессиональных стандартов и квалификаций в образовательные программы в текущем учебном году, а также коснулся темы независимой оценки качества подготовки специалистов в области микро- и наноэлектроники.
Планы на будущее
В рамках заседания Совета были рассмотрены заявления о приеме в состав Ассоциации новых организаций: ИФП СО РАН и КНИТУ-КАИ. Представители организаций отметили, что вступление позволит им укрепить позиции в микроэлектронике и радиоэлектронике, а также даст возможность для обмена опытом.
Заключительная часть заседания была посвящена вопросу участия отечественных университетов в выполнении показателей нового федерального проекта «Подготовка кадров и научного фундамента для электронной промышленности».
О ходе реализации пилотного MPW-запуска на базе АО «Микрон» подробно рассказали проректор по инновационному развитию МИЭТ Алексей Переверзев и доцент кафедры телекоммуникационных систем МИЭТ Александр Тимошенко. Запущенный недавно MPW-сервис для создания новых образцов электронной компонентной базы, разрабатываемой малыми научными группами и студентами, был организован МИЭТ в содружестве с ОЭЗ «Технополис Москва» и Ассоциацией вузов ЭКБ.
В завершении мероприятия для участников совещания была проведена экскурсия по производству Научно-производственного комплекса (НПК) «Технологический центр» МИЭТ. О проектах предприятия рассказал заместитель генерального директора НПК «Технологический центр» А.С. Басаев.
